சோதனைகளின் மூலம் ஃபிபர் தரத்தை எவ்வாறு அளக்க வேண்டும்

பின்வரும் பொதுவாக பயன்படுத்தப்பட்ட பரிசோதனை முறைகளை பயன்படுத்தி ஃபிபர் தரத்தின் பாதிப்பை அளவிடலாம்.:

துண்டை முறை:

ஓப்டலிக் ஃபிபர்ட்களின் அளவை அளப்பதற்கான பகுதி சோதனை முறையாகும். ஊசி நிலையை மாற்றாமல், ஃபைபரின் அளவை நேரடியாக அடையலாம்.

ஒரு ஃபிபர் ஆப்டிக் மாதிரி புலம் விட்டாம்

நுழைவு முறை:

இந்த முறை, ஒப்டலில் ஃபிபர்ட்களின் பண்புகளை அளப்பதற்கான மாற்று பரிசோதனை முறையாகும். நியமம், அது துண்டிப்பு முறைக்கு போன்றது, ஆனால் ஃபிபர் இன்ட்செப்தன் முடிவில் வெளியீட்டு ஆப்க்ஸிலில் உள்ள வெளியீட்டு ஆக்ஸிக் கணினி வெளியீட்டில் உள்ளது.

கவனியுங்கள்: அளவை விளைவுகள் கூடுதலான இணைப்பு இழப்பு மற்றும் குறிப்பு ஃபிபர் துண்டு இழப்புடன் தனியாக திருத்தப்பட வேண்டும்.

பின்காட்டி முறை:

ஓப்டலிலுள்ள ஃபிபர்ட்களின் பண்புகளை அளப்பதற்கான மற்றொரு மாற்று ஆராய்ச்சி முறையாகும். இது ஃபிப்ரரில் வெவ்வேறு புள்ளிகளிலிருந்து ஃபிபர் ஆரம்பம் வரை அளவிடுகிறது.

இது ஒரு முடிவு அளவு முறை, சோதிக்க பயன்படும் கருவி ஒரு ஒப்டலில் நேரம் பரவியல்மீட்டர்.

ஒப்பிடும் முறை:

வெவ்வேறு பண்புகளின் ஃபிபர் ஆப்டிக் மாதிரிகளை தயாரிக்கவும்.

இந்த ஃபிபர் மாதிரிகளின் எடுக்கப்பட்ட பண்புகளை அளவிடு முறை, நுழைவு இழப்பு முறையை பயன்படுத்தி, அல்லது மேலே குறிப்பிடப்பட்ட பின்காட்டர் முறை.

வித்தியாசமான ஓப்டலில் ஃபிபர்ட்களின் தகவல்களை ஒப்பிடுவதன் மூலம், ஃபிபர் தரத்தின் பாதிப்பை ஆராய்ச்சி செய்யலாம்.

பரிசோதனைகளை நடத்தும்போது பின்வரும் குறிப்புகளையும் கவனிக்க வேண்டும்:

நிலையான சோதனை சூழ்நிலையை உறுதிப்படுத்தவும் வெளித் துணைக்கு தவிர்க்கவும்.Www.விளக்கம்cable.cn

சோதனை பிழைகளை குறைக்க உயர்ந்த விளக்க மூலங்களையும் அளக்கும் கருவிகளையும் பயன்படுத்தவும்.

ஒவ்வொரு ஃபிபர் ஆப்டிக் மாதிரிலும் பல அளவை செய்யவும் விளைவுகளின் துல்லியத்தை முன்னேற்றுவிக்க சராசரியாக எடுத்துக்கொள்ளவும்.

பொருத்தமான சோதனை அலை நீளம் மற்றும் நிலைமையை தேர்ந்தெடுக்கவும்.

இந்த ஆராய்ச்சி முறைகள் மூலம், ஃபிபர் தரத்தின் செல்வாக்கு அளவில் கணிக்கப்படலாம், ஃபிபர் ஓப்டிக் தொடர்பு முறைமைகளின் வடிவமைப்பு மற்றும் உதாரணத்திற்கு முக்கிய குறிப்புகளை அளிக்கிறது.